SYE-NY01作物农艺测量仪本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作，能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等，测量数值直接保存在SD卡中，并有软件形成作物农艺形状调查表。
SYE-NY01作物农艺测量仪技术参数：
1、 有卡测量：读ID样品卡后自动识别样品；
2、 无卡测量：26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号；
3、 可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数；
4、 大容量SD卡2G储存，多可储存100万组测量数据，生成TXT文档，并可以转化为Excl表格；
5、 测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号；
6、 可以通过软件生成各种农艺测量表格；
SYE-NY01作物农艺测量仪7、测量范围：0-3000mm；：1mm；误差：1mm ；